Please use this identifier to cite or link to this item: https://hdl.handle.net/11147/10773
Full metadata record
DC FieldValueLanguage
dc.contributor.authorAyav, Tolgaen_US
dc.date.accessioned2021-06-06T13:09:17Z-
dc.date.available2021-06-06T13:09:17Z-
dc.date.issued2021-05-21en_US
dc.identifier.urihttps://hdl.handle.net/11147/10773-
dc.descriptionPatent, 6769 sayılı Sınai Mülkiyet Kanununun Geçici 1 nci maddesi uyarınca Mülga 551 sayılı Patent Haklarının Korunması Hakkında Kanun Hükmünde Kararname kapsamında 30/12/2016 tarihinden itibaren 20 yıl süre ile korunmak üzere 21/05/2021 tarihinde incelemeli olarak verilmiştir.en_US
dc.description.abstractBuluş, MC/DC (Modified Condition/Decision Coverage) testi, DO-178 standardınca önerilen ve A seviyesinde kritik yazılımların geliştirme sürecinde kullanılan bir test yöntemi ile ilgilidir.en_US
dc.language.isoturen_US
dc.publisherTürk Patent Enstitüsüen_US
dc.rightsinfo:eu-repo/semantics/openAccessen_US
dc.subjectMC/DC testlerien_US
dc.subjectModified conditionen_US
dc.subjectDecision coverageen_US
dc.titleMC/DC testlerinin önceliklendirilmesine ilişkin bir yöntemen_US
dc.typepatenten_US
dc.contributor.affiliationIzmir Institute of Technologyen_US
item.grantfulltextopen-
item.openairetypepatent-
item.fulltextWith Fulltext-
item.languageiso639-1tr-
item.openairecristypehttp://purl.org/coar/resource_type/c_15cd-
item.cerifentitytypePatents-
crisitem.author.deptDepartment of Computer Engineering-
Appears in Collections:Computer Engineering / Bilgisayar Mühendisliği
Patent Koleksiyonu / Patent Collection
Yayın Başvuru Koleksiyonu
Files in This Item:
File Description SizeFormat 
Patent_künye.pdfPatent Tescil Belgesi29.26 kBAdobe PDFView/Open
Patent_belge.pdfPatent Dosyası5.62 MBAdobe PDFView/Open
Show simple item record

CORE Recommender

Page view(s)

270
checked on Jul 30, 2021

Download(s)

34
checked on Jul 30, 2021

Google ScholarTM

Check


Items in GCRIS Repository are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.