Please use this identifier to cite or link to this item: https://hdl.handle.net/11147/10773
Title: MC/DC testlerinin önceliklendirilmesine ilişkin bir yöntem
Authors: Ayav, Tolga
Izmir Institute of Technology
Keywords: MC/DC testleri
Modified condition
Decision coverage
Issue Date: 21-May-2021
Publisher: Türk Patent Enstitüsü
Abstract: Buluş, MC/DC (Modified Condition/Decision Coverage) testi, DO-178 standardınca önerilen ve A seviyesinde kritik yazılımların geliştirme sürecinde kullanılan bir test yöntemi ile ilgilidir.
Description: Patent, 6769 sayılı Sınai Mülkiyet Kanununun Geçici 1 nci maddesi uyarınca Mülga 551 sayılı Patent Haklarının Korunması Hakkında Kanun Hükmünde Kararname kapsamında 30/12/2016 tarihinden itibaren 20 yıl süre ile korunmak üzere 21/05/2021 tarihinde incelemeli olarak verilmiştir.
URI: https://hdl.handle.net/11147/10773
Appears in Collections:Computer Engineering / Bilgisayar Mühendisliği
Patent Koleksiyonu / Patent Collection
Yayın Başvuru Koleksiyonu

Files in This Item:
File Description SizeFormat 
Patent_künye.pdfPatent Tescil Belgesi29.26 kBAdobe PDFView/Open
Patent_belge.pdfPatent Dosyası5.62 MBAdobe PDFView/Open
Show full item record

CORE Recommender

Page view(s)

308
checked on Sep 28, 2021

Download(s)

48
checked on Sep 28, 2021

Google ScholarTM

Check


Items in GCRIS Repository are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.